Zastosowanie koncepcji ważonego wykresu Ishikawy do analizy wad odlewów

Przedstawiono sposób analizy wad odlewów oparty na koncepcji ważonego diagramu Ishikawy. Znany diagram Ishikawy, po określeniu zbioru przyczyn głównych i zbioru podprzyczyn, uzupełnia się o wagi cząstkowe. Przypisanie poszczególnym przyczynom i podprzyczynom wag pozwala wyodrębnić na wykresie Ishikawy przyczyny najistotniejsze i wyeliminować mniej ważne. Na konkretnym przykładzie przedstawiono metodykę analizy wad odlewów ilustrując kolejne kroki odpowiednimi tabelami i rysunkami.

---

The method of an analysis of casting defects based on the conception of the weighed Ishikawa- diagram has been presented. The well known Ishikawa-diagram, after determination of the set of main reasons and of the set of underreasons, is completed with the partial weights. Ascribing of weights to the particular reasons and underreasons allows isolating, on the Ishikawa-diagram the most essential reasons and eliminating the less essential ones. By help of a concrete example was presented the methodology of casting defects analysis; the successive steps are illustrated with apropriate tables and figures.