Tytuł pozycji:
Technika XPS w analizach powierzchni katalizatorów. Katalizator wanadowy na nośniku metalicznym do selektywnej redukcji tlenków azotu
Technika XPS (X-ray Phothoelectron Spectroscopy) znana również jako ESCA (Electron Spectroscopy for Chemical Analysis) jest bardzo szeroko stosowana do badań ilościowych składu chemicznego powierzchni ciał stałych. Możliwość eksplorowania jedynie kilku pierwszych warstw atomowych powierzchni ciała oraz przyporządkowywania wykrywanym atomom ich stanu chemicznego czyni tę metodę ważnym narzędziem w każdym laboratorium analitycznym, jednak szczególnie predestynuje ją do badań zjawisk adsorpcji i katalizy heterogenicznej. W tej publikacji dokonano krótkiego przeglądu możliwości analitycznych techniką XPS wraz z przykładem identyfikacji monolitycznego katalizatora wanadowego na nośniku z folii A1Ti do Selektywnej Redukcji Katalitycznej (SCR) tlenków azotu za pomocą amoniaku. Na jego powierzchni wykryto i określono stężenie trzech tlenków wanadu Y2Os, YO2, i Y2O3. Wykazano, że obecność V4+ sprzyja większej aktywności katalizatora.
X-ray Photoelectron Spectroscopy (XPS) also known as Electron Spectroscopy for Chemical Analysis (ESCA), is widely used to investigate the chemical composition of surfaces. The ability to explore the first few atomic layers and assign chemical states to the detected atoms has shown XPS to be a powerful addition to any analytical laboratory. Same examples of surface analysis were presented. Particularly new vanadium monolithic catalyst on metallic carrier of AITi alloy for Selective Catalytic Reduction of NOx with ammonia was described. Its surface composition was identified. It was found that on the surface of the most active catalysts there were V2Os, VO2, and V2O3. It was demonstrated that V4+ ions present on the surface were responsible for high effectiveness of the catalyst.