APPLICATION OF NEURAL NETWORKS FOR ANALYSIS OF RELATIONSHIP BETWEEN THE SERVICE PROPERTIES OF CVD COATINGS AND THEIR MULTIFRACTAL PARAMETERS

Test results of the uncoated and coated with TiC+TiN, Ti(C,N)+TiN, TiC+Ti(C,N)+Al203+TiN, TiN+ Al203, Al203+TiN coatings in the CVD process tool ceramics are presented in the paper. Values of the surface fractal dimension and the multifractal spectra were determined using the projective covering method basing on data obtained on the atomic force microscope AFM. The paper presents test results of mechanical properties, including thickness, hardness, and roughness tests, as well as of the service properties. Moreover, analysis was carried out of the relationship between the selected service properties, including roughness, micro-hardness and cutting ability, and parameters describing the multifractal properties of the CVD coatings. Neural network models were developed based on the experimental results, making it possible to determine the relationship between the coatings properties and some of the parameters describing the multifractal spectrum.

---

W pracy zostały przedstawione wyniki badań ceramiki narzędziowej niepok oraz pokrytej powłokami TiC+TiN, Ti(C,N)+TiN, TiC+Ti(C,N)+Al203+T TiN+ A1203, Al203+Tin w procesie CVD. Wykorzystując skalowanie metodą pokryciową wyznaczono wartości powierzchniowego wymiaru fraktalnego oraz widma multifraktalne na podstawie rezultatów uzyskanych w mikroskopie oddziaływań międzyatomowych AFM. W pracy przedstawiono wyniki pomiaru własności mechanicznych w tym pomiarów grubości, twardości oraz chropowatości oraz własności eksploatacyjnych. Ponadto dokonano analizy zależności między wybranymi własnościami użytkowymi, w tym chropowatości, mikrotwardości i skrawności a parametrami opisującymi widmo multifraktalne powłok CVD. Na podstawie zbioru wyników badań doświadczalnych opracowano modele sieci neuronowych pozwalające na stwierdzenie występowania zależności pomiędzy własnościami powłok a niektórymi z parametrów opisującymi widmo mutlifraktalne.