Mikrostrukturalna charakterystyka Cu i Al po zastosowaniu ściskania z oscylacyjnym skręcaniem

Przeprowadzono badania strukturalne Cu i Al po odkształcaniu w warunkach dużych odkształceń z wykorzystaniem metody ściskania z oscylacyjnym skręcaniem. Do pomiaru wielkości ziarna, kątów dezorientacji i mikrotekstury wykorzystano techniki elektronowej mikroskopii transmisyjnej (TEM) i mikroskopii skaningowej (SEM). Miedź po odkształcaniu jest zróżnicowana pod względem cech strukturalnych. W mikrostrukturze obserwuje się wydłużone układy granic dyslokacyjnych, podziania (średnia średnica około 0,35 urn), mikropasma ścinania oraz obszary zrekry-stalizowane. Obszary podziarnowe cechuje zróżnicowana dezorientacja. Mikrostruktura Al po odkształcaniu składa się głównie z równoosiowych podziaren o średniej średnicy około 1,6 urn z granicami o małej i dużej dezorientacji.

---

Transmission electron microscopy (TEM) and scanning electron microscopy (SEM) investigations of refined microstructure have been performed on polycrystalline Cu and Al subjected to the compression with oscillatory torsion test as a severe plastic deforma-tion process (SPD). TEM and SEM investigations were employed to measure the grain size, misorientation angles and the microtexture of the refined grains. The results for Cu showed that the morphology of the vo!ume elements constituting the microstructure may be characterized as: extended planar dislocation boundaries, submicro size cellular/ subgrain structure (the size of subgrains about 0.35 um), shear microbands and recrys-tallized grains. Subgrains are misoriented by mixture angle. The SPD microstructure of Al had following characteristics: the majority of the subgrains were free of dislocation in the interior, and most of the boundaries delineating the equiaxed subgrains with size about 1.6 um had boundaries with smali and high misorientation angles.