Tytuł pozycji:
Zastosowanie filtrów selektywnych w wiroprądowej defektoskopii wieloczęstotliwościowej
W artykule przedstawiono podstawy wiroprądowej defektoskopii wieloczęstotliwościowej. Metody wieloczęstotliwościowe dają o wiele więcej informacji na temat wady ukrytej w materiale niż metody oparte na pomiarze jednej częstotliwości, dzięki czemu położenie wady, jej kształt, rozmiar może być określony w sposób bardziej precyzyjny. Autorzy zaproponowali urządzenie składające się z zespołu analogowych filtrów aktywnych, mające na celu poprawienie właściwości pomiarowych i użytkowych toru pomiarowego. Celem artykułu jest przedstawienie sposobu projektowania środkowoprzepustowych filtrów eliptycznych oraz późniejszej ich realizacji za pomocą specjalistycznych układów scalonych.
This paper describe basic of multi-frequency method for eddy current testing. Multi-frequency methods give more information about cracks in material and cracks location, size and shape can be define more precisely. Authors propose system of analog active filters, which may improve measurements quality and system performance. The purpose of this paper is to demonstrate design method of bandpass elliptic filters and realize this filters using advanced, specialized IC.