Informacja

Drogi użytkowniku, aplikacja do prawidłowego działania wymaga obsługi JavaScript. Proszę włącz obsługę JavaScript w Twojej przeglądarce.

Tytuł pozycji:

Badania mikrostruktury powierzchni osadzanych chemicznie matryc SiO2 jako nośników funkcjonalnych elementów optoelektroniki

Tytuł:
Badania mikrostruktury powierzchni osadzanych chemicznie matryc SiO2 jako nośników funkcjonalnych elementów optoelektroniki
Autorzy:
Kamljuk, T.
Lugin, V.
Zarskij, I.
Koltunowicz, T.
Data publikacji:
2010
Słowa kluczowe:
matryca SiO2
technika zol-żel
czujnik optyczny
amoniak
SiO2 matrix
sol-gel technology
optic sensor
ammonia
Język:
polski
Dostawca treści:
BazTech
Artykuł
  Przejdź do źródła  Link otwiera się w nowym oknie
W pracy zbadano strukturalne i optyczne właściwości cienkowarstwowych matryc na bazie SiO2 wytworzonych techniką zol-żel używanych do wykrywania amoniaku. Określono związek pomiędzy właściwościami strukturalnymi oraz odpowiedzią optyczną przy detekcji amoniaku. Wykazano możliwość zastosowania wytworzonych warstw w analizatorach gazów.
The paper present structural and optical properties of thin-layer matrices on base SiO2 formed by sol-gel technology was used to detect ammonia. Relations between structural properties and optical response at ammonia detection was determined. Chance of application of created layers in the gas analyzer was showed.

Ta witryna wykorzystuje pliki cookies do przechowywania informacji na Twoim komputerze. Pliki cookies stosujemy w celu świadczenia usług na najwyższym poziomie, w tym w sposób dostosowany do indywidualnych potrzeb. Korzystanie z witryny bez zmiany ustawień dotyczących cookies oznacza, że będą one zamieszczane w Twoim komputerze. W każdym momencie możesz dokonać zmiany ustawień dotyczących cookies