Jitter investigation in dual channel simultaneous sampling measurement methods

Dual channel simultaneous sampling measurement methods of power, phase angle or impedance are highly affected by the jitter of the A/D converter. Thus it is necessary to determine the jitter in the validation procedure of a particular measurement method. The article concerns the Authors’ research continuation, this time based on extended measurement setup for detailed jitter analysis, with two independent signal sources and A/D converter circuits.

---

W dwukanałowych pomiarach próbkujących duży wpływ na wynik pomiaru mocy, kąta fazowego, czy impedancji, może wywierać szum fazowy (jitter) przetwornika A/C. Oszacowanie wartości tego szumu jest niezbędnym krokiem przy walidacji wybranej metody pomiarowej. W artykule przedstawiono wyniki kontynuowanych przez Autorów badań, w których tym razem, w celu przeprowadzenia analizy wykorzystano dwa niezależne źródła sygnałów i dwa układy przetworników A/C.