A method for the determination of mass per unit area inhomogenity of thin samples in XRF analysis

The authors have presented a simple method for the determination of possible inhomogeneity of thin samples in a wavedisperive XRF analysis after previous examination of intensity distribution of exciting radiation on sample's surface. Investigates were carried out using as an example microsamples of mono- and polycrystals. Samples were prepared by digesting an analyzed material directly on the substrate. The obtained results have been presented in a graphical way.

---

Autorzy przedstawili prosty sposób wyznaczania ewentualnej niejednorodności cienkich próbek w falowodyspersyjnej analizie XRF po uprzednim przebadaniu rozkładu natężenia promieniowania wzbudzającego l1a powicrzchl1i próbki. Badania przeprowadzono na przykładzie mikropróbek mono- i polikryształów. Próbki przygotowywano poprzez roztwarzane badanego materiału bezpośrednio na podłożu. Uzyskane wyniki przedstawiono graficznie.