Appreciation methods of structural changes on drawing dies eyelet surface layer

Structural changes near surface layer of drawing eyelets openings observed with X-ray micro analyser, produce evidence of conformity with statistic research wear results of those tools. Computer image analysis method used to analyse surface layer pictures does not confirm fully that opinion. It is suggested that other researches of surface layer parameters of drawing die eyelets allow conclude on that difference reason.

---

Zmiany strukturalne warstw przypowierzchniowych otworów oczek ciągadeł obserwowane na mikroanalizatorze rentgenowskim wykazały zgodność z badaniami statystycznymi stopnia zużycia tych narzędzi. Metoda komputerowej analizy obrazów zastosowana do analizy zarejestrowanych zdjęć warstw przypowierzchniowych nie potwierdziła w pełni tej oceny. Wydaje się, że wyniki badań innych parametrów warstw wierzchnich ciągadeł pozwolą na ustalenie przyczyn tych różnic.