Informacja

Drogi użytkowniku, aplikacja do prawidłowego działania wymaga obsługi JavaScript. Proszę włącz obsługę JavaScript w Twojej przeglądarce.

Tytuł pozycji:

Measurement setup with dual channel simultaneous sampling A/D converter - uncertainty of jitter estimation

Tytuł:
Measurement setup with dual channel simultaneous sampling A/D converter - uncertainty of jitter estimation
Autorzy:
Jóśko, A.
Olędzki, J.
Data publikacji:
2011
Słowa kluczowe:
przetwarzanie analogowo-cyfrowe dwukanałowe
jitter
szum fazowy
dual channel analog-digital conversion
phase noise
Język:
angielski
Dostawca treści:
BazTech
Artykuł
  Przejdź do źródła  Link otwiera się w nowym oknie
Dual channel sampling measurement methods for calculating such parameters as power, phase angle or impedance are highly affected by the jitter of the A/D converter. Thus it is necessary to determine this parameter in the validation procedure of a particular measurement method using chosen set of analog to digital converters or data acquisition card. The article discuses analysis results and practical findings based on research carried out.
W dwukanałowych pomiarach próbkujących duży wpływ na niepewność wyznaczenia wielkości takich jak moc, kąt fazowy, czy impedancja, może wywierać szum fazowy (jitter) układu próbkowania. Wyznaczenie jego wartości jest zatem niezbędnym krokiem przy walidacji danej metody pomiarowej z zastosowaniem wybranego zestawu (karty) przetworników analogowo-cyfrowych. Referat przedstawia wyniki analizy i praktyczne wnioski z przeprowadzonych badań.

Ta witryna wykorzystuje pliki cookies do przechowywania informacji na Twoim komputerze. Pliki cookies stosujemy w celu świadczenia usług na najwyższym poziomie, w tym w sposób dostosowany do indywidualnych potrzeb. Korzystanie z witryny bez zmiany ustawień dotyczących cookies oznacza, że będą one zamieszczane w Twoim komputerze. W każdym momencie możesz dokonać zmiany ustawień dotyczących cookies