Tytuł pozycji:
Measurement setup with dual channel simultaneous sampling A/D converter - uncertainty of jitter estimation
Dual channel sampling measurement methods for calculating such parameters as power, phase angle or impedance are highly affected by the jitter of the A/D converter. Thus it is necessary to determine this parameter in the validation procedure of a particular measurement method using chosen set of analog to digital converters or data acquisition card. The article discuses analysis results and practical findings based on research carried out.
W dwukanałowych pomiarach próbkujących duży wpływ na niepewność wyznaczenia wielkości takich jak moc, kąt fazowy, czy impedancja, może wywierać szum fazowy (jitter) układu próbkowania. Wyznaczenie jego wartości jest zatem niezbędnym krokiem przy walidacji danej metody pomiarowej z zastosowaniem wybranego zestawu (karty) przetworników analogowo-cyfrowych. Referat przedstawia wyniki analizy i praktyczne wnioski z przeprowadzonych badań.