Informacja

Drogi użytkowniku, aplikacja do prawidłowego działania wymaga obsługi JavaScript. Proszę włącz obsługę JavaScript w Twojej przeglądarce.

Tytuł pozycji:

Eu3+ And Er3+ doped SiO2 - TiO2 sol-gel films for active planar waveguides

Tytuł:
Eu3+ And Er3+ doped SiO2 - TiO2 sol-gel films for active planar waveguides
Autorzy:
Minh, L. Q.
Huong, N. T.
Barthou, C.
Benalloul, P.
Strek, P.
Anh, T. K.
Data publikacji:
2002
Słowa kluczowe:
sol-gel method
Eu(III)
Er
thin films
Język:
angielski
Dostawca treści:
BazTech
Artykuł
  Przejdź do źródła  Link otwiera się w nowym oknie
Sol-gel films of SiO2 - TiO2 doped with Eu3+ or Er3+ ions were prepared by spin-coating with a variety of molar concentration ratios of tetraethoxysilane (TEOS) and titanium isopropoxide (TPOT). The ratios of SiO2 - TiO2 are 90/10, 85/15, 80/20, 75/25 and the concentrations of Eu and Er ions varied from 10-3 to 5.10-2 mol %. Silica-titania films annealed from 150 up to 900°C decreased their thickness from 300 to 150 nm and increased the refractive index from 1.49 to 1.62. The multilayer (6-8 layers) silica-titania thin films with thickness about 1.2 - 1.6 mm have been developed in order to make highly doped Eu3+ or Er3+ planar wave guides on silicon substrates. Luminescence spectra, lifetimes as well as FTIR and micro-Raman spectra have been measured. The influence of active ion concentrations and annealing temperature on the luminescence properties and the structure of thin films were investigated.

Ta witryna wykorzystuje pliki cookies do przechowywania informacji na Twoim komputerze. Pliki cookies stosujemy w celu świadczenia usług na najwyższym poziomie, w tym w sposób dostosowany do indywidualnych potrzeb. Korzystanie z witryny bez zmiany ustawień dotyczących cookies oznacza, że będą one zamieszczane w Twoim komputerze. W każdym momencie możesz dokonać zmiany ustawień dotyczących cookies