Informacja

Drogi użytkowniku, aplikacja do prawidłowego działania wymaga obsługi JavaScript. Proszę włącz obsługę JavaScript w Twojej przeglądarce.

Tytuł pozycji:

Research into the relationship between the surface topography, texture and mechanical properties of PVD-Cu/Ni multilayers

Tytuł:
Research into the relationship between the surface topography, texture and mechanical properties of PVD-Cu/Ni multilayers
Autorzy:
Kucharska, B.
Kulej, E.
Pyka, G.
Kanak, J.
Stobiecki, T.
Data publikacji:
2013
Słowa kluczowe:
Cu/Ni multilayers
thermal stability
X-ray diffraction
texture
atomic force microscopy (AFM)
Język:
angielski
Dostawca treści:
BazTech
Artykuł
  Przejdź do źródła  Link otwiera się w nowym oknie
The paper presents the results of structural examinations and mechanical tests of Cu/Ni multilayers fabricated by the magnetron sputtering method. The investigated multilayers were differentiated by Ni sublayer thickness (1, 3 and 6 nm), while the retaining Cu sublayer thickness was unchanged (2 nm). Measurements demonstrated that the multilayers were strongly textured in the direction of their growth [111], with the thinnest multilayer (Cu/Ni = 2/1) showing a stronger texture. Stronger texturing was associated with greater surface roughness. Multilayers with the largest thickness had higher hardness and Young's modulus. The properties of Cu/Ni multilayers depended both on the thickness of their sublayers, as well as on their total thickness.

Ta witryna wykorzystuje pliki cookies do przechowywania informacji na Twoim komputerze. Pliki cookies stosujemy w celu świadczenia usług na najwyższym poziomie, w tym w sposób dostosowany do indywidualnych potrzeb. Korzystanie z witryny bez zmiany ustawień dotyczących cookies oznacza, że będą one zamieszczane w Twoim komputerze. W każdym momencie możesz dokonać zmiany ustawień dotyczących cookies