Informacja

Drogi użytkowniku, aplikacja do prawidłowego działania wymaga obsługi JavaScript. Proszę włącz obsługę JavaScript w Twojej przeglądarce.

Tytuł pozycji:

DECON - method of the quantitative analysis of the XRS spectra for the trace element analysis

Tytuł:
DECON - method of the quantitative analysis of the XRS spectra for the trace element analysis
Autorzy:
Zaremba, K.
Data publikacji:
2003
Słowa kluczowe:
fluorescencja rentgenowska
analiza spektralna
analiza ilościowa
X-ray fluorescence
peak deconvolution
spectrum analysis
quantitative analysis
Język:
angielski
Dostawca treści:
BazTech
Artykuł
  Przejdź do źródła  Link otwiera się w nowym oknie
A simple, effective method is described, which permits accurate quantitative analysis of thin samples applying the X-ray fluorescence technique. The presented computer program (DECON) uses a weighted linear fitting of the set of computer generated reference spectra. The background function is included in the fitting process and approximated as a ninth-order polynomial. The precise calibration procedure, based on the fitting of high, ealisy used in several applications of the analysis of biomedical and environmental samples.

Ta witryna wykorzystuje pliki cookies do przechowywania informacji na Twoim komputerze. Pliki cookies stosujemy w celu świadczenia usług na najwyższym poziomie, w tym w sposób dostosowany do indywidualnych potrzeb. Korzystanie z witryny bez zmiany ustawień dotyczących cookies oznacza, że będą one zamieszczane w Twoim komputerze. W każdym momencie możesz dokonać zmiany ustawień dotyczących cookies