Elektronowy mikroskop skaningowy w badaniach struktury stopów odlewniczych

W referacie przedstawiono wykorzystanie efektów emisji elektronów pierwotnych rozproszonych wstecznie do ujawniania struktury i identyfikacji faz poprzez wytwarzanie kontrastu kompozycyjnego i analizę składu chemicznego w elektronowym mikroskopie skaningowym współpracującym z mikroanalizatorem rentgenowskim EDS. Przestawiono zalety tej metody badawczej na przykładach badania: struktury wtrąceń niemetalicznych, struktury staliwa austenityczno - ferrytycznego Cr-Ni + Mo stabilizowanego niobem oraz struktury brązu B101.

---

This paper submits useing effect of backscattered electrons emission for structure elicit and phases identifications through compounds contrast making and chemical analysis. The investigations were made by means of scanning electron microscopy (SEM) and energy dispersive X-Ray microanalysis (EDS). The advantages of this method are also described.