Informacja

Drogi użytkowniku, aplikacja do prawidłowego działania wymaga obsługi JavaScript. Proszę włącz obsługę JavaScript w Twojej przeglądarce.

Tytuł pozycji:

Nowa technika pomiarów deformacji materiału T-S

Tytuł:
Nowa technika pomiarów deformacji materiału T-S
Autorzy:
Sikora, Z.
Michalak, R.
Wyroślak, M.
Data publikacji:
2003
Słowa kluczowe:
materiał T-S
stanowisko badawcze
materiał rozdrobniony
T-S material
experimental stand
Język:
polski
Dostawca treści:
BazTech
Artykuł
  Przejdź do źródła  Link otwiera się w nowym oknie
W artykule przedstawiono treściwy opis wybranych elementów nowego stanowiska badawczego dla materiału Taylor-Schneebeli (T-S) w warunkach płaskiego stanu odkształcenia. Omówiono wykorzystywane systemy pomiarowe, w tym nowy oparty na rejestracji zdjęć cyfrowych. Analiza pomiarów związana jest z metodami cyfrowej interpretacji obrazów, co umożliwia śledzenie pola przemieszczenia i obrotów cząstek i modelowego.
A brief description of a new Taylor-Schneebeli stand in plain strain conditions is presented. The measurement systems used as well as the new one based on digital recording technique is described. The analysis of measurement results is connected with a new technique of digital image processing procedure. Displacement and rotation of all the grains of the model material is possible on the basis of this new technology.

Ta witryna wykorzystuje pliki cookies do przechowywania informacji na Twoim komputerze. Pliki cookies stosujemy w celu świadczenia usług na najwyższym poziomie, w tym w sposób dostosowany do indywidualnych potrzeb. Korzystanie z witryny bez zmiany ustawień dotyczących cookies oznacza, że będą one zamieszczane w Twoim komputerze. W każdym momencie możesz dokonać zmiany ustawień dotyczących cookies