Planar irregularities of texture and stress field detected by X ray diffraction technique

Regardless of the origin of structure irregularities of materials, recognizing its spatial distribution in a sample or constructing elements is a great research problem. One of the most effective and non-destructive tools in this range is the X-ray diffraction technique assisted by appropriate experimental method and data processing. The work presents the results of investigations of planar distribution of crystallographic texture and stress irregularities manifested by changes of diffraction effects registered by X-ray technique. As an example, the introduced method is tested on titanium rod after severe plastic deformation process.

---

ldentyfikacja przestrzennego rozkładu niejednorodności struktury materiału, bez względu na przyczyny ich powstania, stanowi istotny problem badawczy. Jednym z najbardziej efektywnych i nieniszczących narzędzi badawczych w tym zakresie jest technika dyfrakcji rentgenowskiej. W niniejszej pracy zaprezentowano wyniki badań rozkładu planarnego tekstury krystalograficznej i naprężeń własnych przejawiających się w zmianie charakterystyki odbić dyfrakcyjnych. Wprowadzona metoda topografii tekstury i naprężeń własnych została przetestowana na prętach tytanu poddanych silnemu odkształceniu plastycznemu.