Informacja

Drogi użytkowniku, aplikacja do prawidłowego działania wymaga obsługi JavaScript. Proszę włącz obsługę JavaScript w Twojej przeglądarce.

Tytuł pozycji:

The Technique of without dismantling control of metrological performance of industrial measurement devices

Tytuł:
The Technique of without dismantling control of metrological performance of industrial measurement devices
Autorzy:
Ogirko, R.
Data publikacji:
2003
Słowa kluczowe:
bezdemontażowy
kontrola metrologiczna
pomiary
wzorcowy
obwód pomiarowy
without dismantling
metrological control
measurement
reference
measuring circuit
Język:
angielski
Dostawca treści:
BazTech
Artykuł
  Przejdź do źródła  Link otwiera się w nowym oknie  Pełny tekst  Link otwiera się w nowym oknie
Industrial devices of measurement are in the heavy conditions of the operation. These factors can influence essentially on their metrological performance. Available calibrators are not suitable for realization of the metrological control without disconnection of measuring circuit. It is suggested to implement without dismantling metrological control without the breach of measuring circuit for taking into consideration the maximal amount of factors affects on metrological performance. It is considered a number of the functional schemes of reference devices for performance of the metrological control by way of parallel measurement or reproduction of informative parameter of transducers, including passive parameters, for example - resistance.
Przemysłowe układy pomiarowe zazwyczaj pracują w skomplikowanych warunkach: szeroki zakres temperatur, niedokładne zasilanie, duży poziom zakłóceń. Wymienione czynniki mogą spowodować istotne zmiany charakterystyk metrologicznych. Również negatywny wpływ na dokładność może mieć podłączenie do innych układów systemu. Ponieważ wykorzystywane do kontroli metrologicznej kalibratory wymagają demontażu obwodu pomiarowego, proponuje się wykonanie takiej kontroli bez demontażu systemu pomiarowego w celu uwzględnienia maksymalnej ilości czynników wpływających. Rozpatrzono szereg schematów funkcyjnych układów wzorcowych dla prowadzenia kontroli metrologicznej przez równoległe pomiary lub odtwarzanie parametrów informacyjnych przetworników, w tym przetworników biernych, na przykład rezystancji.

Ta witryna wykorzystuje pliki cookies do przechowywania informacji na Twoim komputerze. Pliki cookies stosujemy w celu świadczenia usług na najwyższym poziomie, w tym w sposób dostosowany do indywidualnych potrzeb. Korzystanie z witryny bez zmiany ustawień dotyczących cookies oznacza, że będą one zamieszczane w Twoim komputerze. W każdym momencie możesz dokonać zmiany ustawień dotyczących cookies