Symulacja błędów przemijających w mikrokontrolerze satelitarnym

W wielu zastosowaniach mikrokontrolerów należy brać pod uwagę wpływ na ich pracę błędów przemijających (zakłócenia elektromagnetyczne, promieniowanie kosmiczne itp.). Artykuł przedstawia metodę badania odporności na błędy przemijające w mikrokontrolerach. Bazuje ona na opracowanej platformie symulatora sprzężonego z obiektem badanym poprzez interfejs RS232C. Technika ta została zweryfikowana w badaniu mikrokon-trolera przeznaczonego do sterowania zasilaniem pokładowym satelity. W artykule przedstawiono wyniki eksperymentów oraz wskazano możliwości programowego zwiększania odporności na błędy.

---

In many microcontroller applications the impact of transient faults (electromagnetic disturbances, cosmic radiation, etc.) on their operation has to be taken into account. The paper presents a new methodology of testing transient fault robustness in microcontrollers. It is based on the developed fault injection platform which is coupled to the tested object via RS 232C interface. A tested object (microcontroller) cooperates with real or modelled environment (partially controlled by a simulator). This technique has been successfully applied to testing a microcontroller used for managing the satellite on-board power subsystem (solar cells, batteries, power accumulation and distribution), Many transient fault simulation experiments have been performed and their results interpreted. In particular, there has been analysed the impact of faults on correct control flow of the program. Some simple fault detection and error recovery mechanisms have been included in the considerations. The presented methodology can be easily extended for other microcontrollers and communication interfaces. Time and code overheads are negligible so the simulation results are quite realistic.