Wyznaczanie długości fali światła diody laserowej w układzie interferometru Michelsona ze stabilizowaną różnicą dróg optycznych

Idea pomiaru polega na porównywaniu wartości zmian faz prążków interferencyjnych lasera wzorcowego i diody laserowej uzyskanych jednocześnie w tym samym układzie interferometru Michelsona przy zmienianej różnicy dróg geometrycznych. Każdorazowa zmiana różnicy dróg geometrycznych jest równa długości fali lasera wzorcowego. Po wprowadzeniu zmiany różnica dróg optycznych jest stabilizowana na podstawie rozkładu fazy prążków interferencyjnych lasera wzorcowego. Długość badanej fali diody laserowej jest wyznaczana na podstawie stosunku zmian fazy lasera wzorcowego i badanego. W celu redukcji wpływu losowych czynników zakłócających pomiar, do analizy wyników wykorzystano model regresji liniowej.

---

The measurement idea is based on comparing of phases variations in the same Michelson-type interferometer at change optical path difference. Each change of the optical path difference is equal of the laser diode wavelength. After each change, the optical path difference is stabilized by observing the laser diode fringe phase. Thus, the ratio observed variations of the phase reference laser and phase of the laser diode fringes is a measure of the laser diode wavelength. In order to minimized influence of random disturbance factors on measurement process, linear regression model is used.