Informacja

Drogi użytkowniku, aplikacja do prawidłowego działania wymaga obsługi JavaScript. Proszę włącz obsługę JavaScript w Twojej przeglądarce.

Tytuł pozycji:

Warstwa powierzchniowa, jej własności i rola w stymulowaniu procesów transportowych

Tytuł:
Warstwa powierzchniowa, jej własności i rola w stymulowaniu procesów transportowych
Autorzy:
Duś-Sitek, M.
Data publikacji:
2000
Słowa kluczowe:
warstwa powierzchniowa
gradienty koncentracji defektów
pole elektryczne
electrical field
concentration gradients defects
superficial layer
Język:
polski
Dostawca treści:
BazTech
Artykuł
  Przejdź do źródła  Link otwiera się w nowym oknie
W pracy przedstawiono wyniki badań dotyczących stanu i roli warstwy powierzchniowej w stymulowaniu procesów transportowych. Poprzez analizę badań wybranej grupy krystalicznych i amorficznych ciał stałych z wielosferowymi warstwami powierzchniowymi wskazano na przyczyny wystąpienia źródeł pola elektrycznego w warstwie wierzchniej – dużej nadmiarowej koncentracji ładunku elektrycznego. Elektryczna warstwa podwójna powstająca tuż przy powierzchni geometrycznej metalu stanowi układy mikrokondensatorów, jakimi stają się mikroszczeliny powstające na powierzchni deformowanych metali. Mikroskopią optyczną doświadczalnie potwierdzono obecność pola elektrycznego na powierzchni geometrycznej warstwy wierzchniej oraz nad warstwą powierzchniową.
The paper presents results of the investigation concerning the state and the role of the superficial layer in the stimulation of the transport processes. The analysis of the group of the crystalline and amorphous solid state materials with multilaminar superficial layers shows the causes for occurring an electrifield in the superficial layer - the high concentration of the electric charge. The electric double layer forming near geometrical surface of the metal makes the system of the microcapacitors which are microcracks on the surface of the deformed metals. The existance of the electric field on geometrical surface and over the superficial layer has been confirmed by optical microscopy.

Ta witryna wykorzystuje pliki cookies do przechowywania informacji na Twoim komputerze. Pliki cookies stosujemy w celu świadczenia usług na najwyższym poziomie, w tym w sposób dostosowany do indywidualnych potrzeb. Korzystanie z witryny bez zmiany ustawień dotyczących cookies oznacza, że będą one zamieszczane w Twoim komputerze. W każdym momencie możesz dokonać zmiany ustawień dotyczących cookies