Drogi użytkowniku, aplikacja do prawidłowego działania wymaga obsługi JavaScript. Proszę włącz obsługę JavaScript w Twojej przeglądarce.

Tytuł pozycji:

Mikroskopia sił atomowych "Shear force" z interferencyjną detekcją ostrza skanującego

Szczegóły
Abstrakt

Tytuł:: Mikroskopia sił atomowych "Shear force" z interferencyjną detekcją ostrza skanującego
Autorzy:: Sikora, A.
Sankowska, A.
Gotszalk, T. P.
Radojewski, J.
Szeloch, R. F.
Data publikacji:: 2002
Język:: polski
Dostawca treści:: BazTech
: Artykuł

Przejdź do źródła

Prace realizowane ze środków projektu badawczo-naukowego KBN nr 7 T11B 064 21.

Ta witryna wykorzystuje pliki cookies do przechowywania informacji na Twoim komputerze. Pliki cookies stosujemy w celu świadczenia usług na najwyższym poziomie, w tym w sposób dostosowany do indywidualnych potrzeb. Korzystanie z witryny bez zmiany ustawień dotyczących cookies oznacza, że będą one zamieszczane w Twoim komputerze. W każdym momencie możesz dokonać zmiany ustawień dotyczących cookies

Informacja

Mikroskopia sił atomowych "Shear force" z interferencyjną detekcją ostrza skanującego