Informacja

Drogi użytkowniku, aplikacja do prawidłowego działania wymaga obsługi JavaScript. Proszę włącz obsługę JavaScript w Twojej przeglądarce.

Tytuł pozycji:

Multidomain modelling and practical verification of semiconductor ion-selective sensors for CAD

Tytuł:
Multidomain modelling and practical verification of semiconductor ion-selective sensors for CAD
Autorzy:
Daniel, M.
Janicki, M.
Szermer, M.
Napieralski, A.
Data publikacji:
2004
Słowa kluczowe:
system CAD
półprzewodniki
CAD system
semiconductors
Język:
polski
Dostawca treści:
BazTech
Artykuł
  Przejdź do źródła  Link otwiera się w nowym oknie

Ta witryna wykorzystuje pliki cookies do przechowywania informacji na Twoim komputerze. Pliki cookies stosujemy w celu świadczenia usług na najwyższym poziomie, w tym w sposób dostosowany do indywidualnych potrzeb. Korzystanie z witryny bez zmiany ustawień dotyczących cookies oznacza, że będą one zamieszczane w Twoim komputerze. W każdym momencie możesz dokonać zmiany ustawień dotyczących cookies