Informacja

Drogi użytkowniku, aplikacja do prawidłowego działania wymaga obsługi JavaScript. Proszę włącz obsługę JavaScript w Twojej przeglądarce.

Tytuł pozycji:

Modelowanie wiroprądowego przetwormika do pomiaru konduktywności cienkich warstw przewodzących

Tytuł:
Modelowanie wiroprądowego przetwormika do pomiaru konduktywności cienkich warstw przewodzących
Autorzy:
Stec, W.
Data publikacji:
2005
Słowa kluczowe:
pomiary fizyczne
konduktywność
cienkie warstwy przewodzące
przetwornik wiroprądowy
physical measurements
conductivity
thin conductive films
Język:
polski
Dostawca treści:
BazTech
Artykuł
  Przejdź do źródła  Link otwiera się w nowym oknie
W artykule przedstawiono sposób modelowania wiroprądowego przetwornika do pomiaru konduktywności cienkich warstw przewodzących. Zaprezentowano wyniki symulacji oddziaływania warstw, o założonych właściwościach fizycznych, na system pomiarowy.
In this article modelling of eddy current sensor for conductivity measurement of thin conductive layers has been presented. The layers which have assumed physical properties have an influence on the measuring system. The results of simulation were discussed.

Ta witryna wykorzystuje pliki cookies do przechowywania informacji na Twoim komputerze. Pliki cookies stosujemy w celu świadczenia usług na najwyższym poziomie, w tym w sposób dostosowany do indywidualnych potrzeb. Korzystanie z witryny bez zmiany ustawień dotyczących cookies oznacza, że będą one zamieszczane w Twoim komputerze. W każdym momencie możesz dokonać zmiany ustawień dotyczących cookies