The EBIC study of boundary effects in the Si PIN photodiodes for X-ray detector applications

The electron-beam-induced current (EBIC) method is employed to study the boundary effects of the commercial BPYP and BPYP 42 photodiodes, aiming at a better understanding of their response to α-particle and light-pulse excitation. Our results show that the EBIC method is suitable for the assessment of photodetectors for X-ray detector applications. The sensitivities of different detector areas are quantitatively assessed. A good agreement is found with pulse-height spectra measurements. The complementary nature of electron-beam and light-pulsed/a-particle excitation is pointed out.

---

Metoda pomiaru prądów indukowanych wiązką elektronową (EBIC) została zastosowana do badania wpływu efektów brzegowych na działanie fotodiod BPYP 44 i BPYP 42 użytych do detekcji impulsów promieniowania X emitowanego z plazmy laserowej. Dodatkowym celem pracy było wyjaśnienie nietypowych efektów obserwowanych podczas detekcji impulsów światła i cząstek α. Stwierdzono, że wnioski dotyczące funkcjonowania fotodiod, otrzymywane za pomocą różnych metod stymulacji, wzajemnie się potwierdzają i uzupełniają. Na ich podstawie można ocenić wkład poszczególnych obszarów powierzchniowych struktur do odpowiedzi detektorów na impuls promieniowania X.