Informacja

Drogi użytkowniku, aplikacja do prawidłowego działania wymaga obsługi JavaScript. Proszę włącz obsługę JavaScript w Twojej przeglądarce.

Tytuł pozycji:

Analiza rozpraszania światła na powierzchniach jednowarstwowych ściernych materiałów nasypowych z ziarnami ściernymi typu Trizact ™

Tytuł:
Analiza rozpraszania światła na powierzchniach jednowarstwowych ściernych materiałów nasypowych z ziarnami ściernymi typu Trizact ™
Autorzy:
Kapłonek, W.
Nadolny, K.
Baran, J.
Data publikacji:
2015
Słowa kluczowe:
rozpraszanie światła
metody skaterometryczne
przetwarzanie i analiza obrazu
jednowarstwowe materiały ścierne
ziarna ścierne Trizact
light scattering
light scattering methods
image processing and analysis
monolayer abrasive bulk materials
abrasive grains Trizact™
Język:
polski
Dostawca treści:
BazTech
Artykuł
  Przejdź do źródła  Link otwiera się w nowym oknie
W pracy przedstawiono zastosowanie metody rozpraszania światła do oceny stanu czynnej powierzchni jednowarstwowych ściernych materiałów nasypowych z ziarnami typu Trizact™. Analizie poddano siedem dysków ściernych o ziarnistości A160, A100, A65, A45, A30, A16, A6, które oświetlano wiązką laserową o długości fali λ = 660 nm. Światło odbite i rozproszone przez elementy powierzchni tworzyło obraz optyczny widoczny w płaszczyźnie obserwacji. Do analizy zastosowano oprogramowanie Image Pro®-Plus, w którym, dla zarejestrowanych obrazów, wyznaczano wybrane parametry geo i fotometryczne.
The condition of surface of the abrasive tools is an important factor, which guaranteed the proper course and results of the machining process. Detection of fracture and abrasive wear of the grains as well as localization and analysis of smears of the work piece material can be assessed by the use of non-contact optical methods. In the work, the use of light scattering methods for assessment of condition of active surface of the monolayer abrasive grains Trizact™ was presented. Analysis were conducted on seven 7 Trizact™ abrasive discs with different gradations of agglomerate: A160, A100, A65, A45, A30, A16, A6, which were illuminated by a laser beam (wavelength λ = 660 nm). The light reflected and scattered by the surface elements has formed a characteristic pattern visible in a observation plan. For analysis of acquired images and determining selected geo- and photometric parameters was used the Image Pro® Plus software. The obtained results were compared with the analyses carried out for abrasive sheets with: Cubitron™ II grains, silicon carbide SiC grains as well as Al2O3 grains with sputtered layer of gold by PVD method.

Ta witryna wykorzystuje pliki cookies do przechowywania informacji na Twoim komputerze. Pliki cookies stosujemy w celu świadczenia usług na najwyższym poziomie, w tym w sposób dostosowany do indywidualnych potrzeb. Korzystanie z witryny bez zmiany ustawień dotyczących cookies oznacza, że będą one zamieszczane w Twoim komputerze. W każdym momencie możesz dokonać zmiany ustawień dotyczących cookies