Data mining based algorithm for analog circuits fault diagnosis

The paper deals with feature selection of testing signals used for fault-driven analysis of analog circuits based on some grey systems properties. Simple two stages fault diagnostic strategy for circuits with limited access to internal nodes is presented, illustrated with the examples and discussed. Algorithm enabling to detect and localize single and multiple catastrophic faults, is prepared under assumption, that input data sets are extracted from DC analysis.

---

W artykule przedstawiono dwuetapowy algorytm detekcji I lokalizacji pojedynczych i wielokrotnych uszkodzeń układów analogowych, oparty o pewne techniki drążenia danych i elementy teorii systemów szarych. Założono ograniczony dostęp do punktów wewnętrznych oraz możliwość analizy dynamicznej i stałoprądowej badanych układów.