Mikroskopia sił atomowych jako narzędzie do oceny jakości powierzchni soczewek kontaktowych

Na przestrzeni ostatnich lat badania właściwości powierzchni soczewek kontaktowych odgrywają coraz większe znaczenie w kontekście oceny komfortu i bezpieczeństwa ich stosowania. Nieocenionym narzędziem wydaje się być mikroskopia sił atomowych (AFM), umożliwiająca charakteryzację powierzchni soczewek kontaktowych w warunkach zbliżonych do naturalnych. W artykule dokonano przeglądu oryginalnych prac badawczych, odzwierciedlających aktualny stan wiedzy na temat możliwości zastosowań techniki AFM do badania soczewek kontaktowych.

---

Over the course of the last years the studies of the surface properties of contact lenses have been playing an increasing role in the context of the evaluation of their comfortable and safe application. Atom force microscopy (AFM) seems an invaluable tool, enabling the characterization of contact lenses surface under conditions similar to natural. The following paper provides with the revision of original research reflecting up-to-day state of scientific knowledge of the possibility to apply AFM technique for contact lens studies.

---

Opracowanie ze środków MNiSW w ramach umowy 812/P-DUN/2016 na działalność upowszechniającą naukę (zadania 2017).