Elipsometryczne badania warstw aktywnych wpotrójnych organicznych ogniwach słonecznych

Wartykule przeprowadzona została analiza powierzchni trójskładnikowych cienkich warstw do zastosowania jako warstwa aktywna potrójnych ogniw fotowoltaicznych. Jako metoda badawcza została wybrana elipsometria spektroskopowa. Wykonano mapowanie powierzchni dla cienkich warstw zwybranymi domieszkami. Do danych doświadczalnych został dopasowany model Cody-Lorentza, wyznaczono grubości ichropowatości warstw. Przedsta-wiony został również rozkład powierzchniowy współczyn-nika załamania iwspółczynnika ekstynkcji

---

In this paper, the surface analysis of three-component thin films for use as the active layer of ternary photovoltaic cells is carried out. Spectroscopic ellipsometry was chosen as the test method. Surface mapping was performed for thi n films with selected dopants. The Cody-Lorentz model was fitted to the experimental data, and thicknesses and roughnesses of the layers were determined. The surface distribution of the refractive index and extinction coeffi-cient was also demonstrated.