Skaningowa mikroskopia tunelowa – powierzchniowa metoda badawcza o atomowej rozdzielczości

Omawiana w niniejszym artykule skaningowa mikroskopia tunelowa była pierwszą metodą pozwalającą na badanie powierzchni z rozdzielczością mogącą osiągać poziom submolekularny. Taka precyzja daje możliwość monitorowania zjawisk zachodzących na granicy faz, które mają wielkie znaczenie dla rozwijającej się nanotechnologii oraz dla ulepszania obecnych procesów przemysłowych.

---

Scanning Tunneling Microscopy that is discussed in the present article, is the only method enabling to probe the surfaces with resolution that may achieve submolecular level. Such precision gives the opportunity for monitoring of phenomena that occur at the phase boundary, which are of great importance for developing nanotechnology and for improvement of current industrial processes.