- Tytuł:
- Some remarks on the paper "Optimization of S:Sn precursor molar concentration on the physical properties of spray deposited single phase Sn2S3 thin films" by J. Srivind, V.S. Nagaretthinam, A.R. Balu [Mater. Sci.-Poland, 34 (2016), 393 – 398]
- Autorzy:
- Tomaszewski, Paweł E.
- Data publikacji:
- 2020
- Słowa kluczowe:
-
X-ray diffraction
thin films
error
Sn2S3 - Język:
- angielski
- Dostawca treści:
- BazTech
- Artykuł