Drogi użytkowniku, aplikacja do prawidłowego działania wymaga obsługi JavaScript. Proszę włącz obsługę JavaScript w Twojej przeglądarce.

Tytuł pozycji:

Reliability wave in light of the nano development

Szczegóły
Abstrakt

Tytuł:: Reliability wave in light of the nano development
Autorzy:: Way, K.
Data publikacji:: 2007
Słowa kluczowe:: stress test
nanotechnology
Język:: angielski
Dostawca treści:: BazTech
: Artykuł

Przejdź do źródła Pełny tekst

This talk is based on the Editorial of IEEE Transactions on Reliability, December, 2006 and discusses a framework for applying reliability principles and practices to the emerging nano technology fields.

Ta witryna wykorzystuje pliki cookies do przechowywania informacji na Twoim komputerze. Pliki cookies stosujemy w celu świadczenia usług na najwyższym poziomie, w tym w sposób dostosowany do indywidualnych potrzeb. Korzystanie z witryny bez zmiany ustawień dotyczących cookies oznacza, że będą one zamieszczane w Twoim komputerze. W każdym momencie możesz dokonać zmiany ustawień dotyczących cookies

Informacja

Reliability wave in light of the nano development