Informacja

Drogi użytkowniku, aplikacja do prawidłowego działania wymaga obsługi JavaScript. Proszę włącz obsługę JavaScript w Twojej przeglądarce.

Tytuł pozycji:

Crystallographic texture and anisotropy of electrolytic deposited copper coating analysis

Tytuł:
Crystallographic texture and anisotropy of electrolytic deposited copper coating analysis
Autorzy:
Skrzypek, S. J.
Ratuszek, W.
Bunsch, A.
Witkowska, M.
Kowalska, J.
Goły, M.
Chruściel, K.
Data publikacji:
2010
Słowa kluczowe:
folia miedziana
tekstura
elektroosadzanie
copper films
texture
electrodepositing
Język:
angielski
Dostawca treści:
BazTech
Artykuł
  Przejdź do źródła  Link otwiera się w nowym oknie
Purpose: To investigate of texture and microstructure of electrodeposited copper thin films. Design/methodology/approach: Influence of the electrodepositing parameters e.g. applied electric current as variable on texture formation of copper films was studied at presented work. Experiment was done for copper deposition from sulphate bath under galvanostatic and pulse current with different additives in the bath. X-ray examination included texture measurements phase analysis by means of Bragg-Brentano, grazing incidence diffraction and crystallite size using broadening of X-ray diffraction line. Findings: Electrodeposited copper coatings exhibit different texture and microstructure depending on applied conditions in which they were obtained. Pulse and direct current conditions leads to different texture of electrodeposited copper coatings. For each type of current texture depends on deposition time and current intensity. Only in some cases {111} component was obtained. Research limitations/implications: extures of the investigated samples are very sensitive for applied current conditions of electrodepositing. At the copper coatings obtained with reverse current texture components {110} is dominating one. Relations between texture and properties (hardness, Young module and grain size) of copper layer were found. Originality/value: The texture of electrodeposited copper should be influential structural characteristic when anisotropy is considered. It is already known that electromigration depends on texture of copper films.

Ta witryna wykorzystuje pliki cookies do przechowywania informacji na Twoim komputerze. Pliki cookies stosujemy w celu świadczenia usług na najwyższym poziomie, w tym w sposób dostosowany do indywidualnych potrzeb. Korzystanie z witryny bez zmiany ustawień dotyczących cookies oznacza, że będą one zamieszczane w Twoim komputerze. W każdym momencie możesz dokonać zmiany ustawień dotyczących cookies