Nowa metoda charakteryzacji dielektryków w paśmie częstotliwości subterahercowych

W artykule przedstawiono nową metodę charakteryzacji materiałów dielektrycznych w paśmie subterahercowym. Opracowana metoda bazuje na szerokopasmowym pomiarze zespolonego współczynnika fali stojącej (ZWFS). Zaproponowany współczynnik ZWFS pozwala na określenie części rzeczywistej przenikalności elektrycznej i tangensa kąta stratności bez informacji o grubości próbki materiału poddawanego badaniom. Przeprowadzona analiza teoretyczna oraz wyniki badań eksperymentalnych potwierdzają słuszność przyjętej koncepcji pomiaru.

---

A new method for characterization of dielectrics in the sub-terahertz frequency range is presented. This method makes it possible to characterize every dielectric by using only the measured complex reflection coefficient without accurate information about the thickness of dielectric sample. The mathematical model of the method is formulated. Finally, results of measurements for two different dielectrics are presented.