Konstrukcja mikroskopu sił atomowych z układem obrazowania wykorzystującym składowe harmoniczne

W artykule przedstawiono konstrukcję zbudowanego mikroskopu sił atomowych. Podstawowym kryterium przy jej opracowaniu była prostota obsługi przy zachowaniu wysokich parametrów pomiarowych. Zastosowano modułowość rozwiązań mechanicznych, sterowania i oprogramowania, co umożliwia wprowadzanie zmian i modyfikacji rozszerzających zakres zastosowań urządzenia. Opisano jedną z takich modyfikacji polegającą na obrazowaniu badanych obiektów z wykorzystaniem pomiaru amplitudy i fazy składowych harmonicznych sygnału pochodzącego z sondy pracującej w trybie kontaktu przerywanego.

---

The paper presents the design of the atomic force microscope. The basic criterion for its development was the ease of use associated with high measurement parameters. The used modular design of mechanical, control and software elements allows to make changes and in¬troduce modifications to extend the range of applications of the device. One such modification involving the imaging of objects using the measurement of the amplitude and the phase of the signal from the probe working in an intermittent contact mode was described.