Drogi użytkowniku, aplikacja do prawidłowego działania wymaga obsługi JavaScript. Proszę włącz obsługę JavaScript w Twojej przeglądarce.

Tytuł pozycji:

Papier i tektura : pomiar połysku : połysk przy kącie 45 stopni z zastosowaniem wiązki równoległej, metoda DIN

Szczegóły
Opis

Tytuł:: Papier i tektura : pomiar połysku : połysk przy kącie 45 stopni z zastosowaniem wiązki równoległej, metoda DIN
Współwytwórcy:: Polski Komitet Normalizacyjny Instytucja sprawcza Wydawca
Data publikacji:: copyright 2003
Wydawca:: Warszawa : Polski Komitet Normalizacyjny, copyright 2003
Tematy:: Papier
Źródło:: Biblioteka Narodowa
Język:: angielski
Prawa:: Publikacja chroniona prawem autorskim - reprodukcja cyfrowa dostępna w czytelniach BN i na terminalach Academiki
http://www.europeana.eu/rights/rr-r/
Dostawca treści:: Academica
: Inne

Przejdź do źródła

Tekst angielski, tytuł i uwagi na ekranie tytułowym polskie.

Norma Europejska EN 14086:2003 [...] ma status Polskiej Normy.

Norma wprowadza EN 14086:2003, IDT ; zatwierdzona 9 września 2002 r.

Tytuł z ekranu tytułowego.

normy

Bibliografia na stronie 15.

Ta witryna wykorzystuje pliki cookies do przechowywania informacji na Twoim komputerze. Pliki cookies stosujemy w celu świadczenia usług na najwyższym poziomie, w tym w sposób dostosowany do indywidualnych potrzeb. Korzystanie z witryny bez zmiany ustawień dotyczących cookies oznacza, że będą one zamieszczane w Twoim komputerze. W każdym momencie możesz dokonać zmiany ustawień dotyczących cookies

Informacja

Papier i tektura : pomiar połysku : połysk przy kącie 45 stopni z zastosowaniem wiązki równoległej, metoda DIN