Drogi użytkowniku, aplikacja do prawidłowego działania wymaga obsługi JavaScript. Proszę włącz obsługę JavaScript w Twojej przeglądarce.

Tytuł pozycji:

Precision of silicon oxynitride refractive-index profile retrieval using optical characterization

Szczegóły
Opis

Tytuł:: Precision of silicon oxynitride refractive-index profile retrieval using optical characterization
Współwytwórcy:: Žídek, Karel (fizyk) Autor
Václavík, Jan Autor
Kanclíř, Vít Autor
Data publikacji:: 2021
Tematy:: Azotki
Współczynnik załamania światła
Związki tlenu
Wiązka jonów
Cienkie warstwy (technika)
Związki krzemu
Fizykochemiczne metody badawcze
Źródło:: Biblioteka Narodowa
Język:: angielski
Prawa:: http://www.europeana.eu/rights/rr-r/
Publikacja chroniona prawem autorskim - reprodukcja cyfrowa dostępna w czytelniach BN i na terminalach Academiki
Dostawca treści:: Academica
: Artykuł

Przejdź do źródła

artykuł z czasopisma fizycznego

Bibliografia na stronie 221.

artykuł z czasopisma naukowego

raport z badań

Ta witryna wykorzystuje pliki cookies do przechowywania informacji na Twoim komputerze. Pliki cookies stosujemy w celu świadczenia usług na najwyższym poziomie, w tym w sposób dostosowany do indywidualnych potrzeb. Korzystanie z witryny bez zmiany ustawień dotyczących cookies oznacza, że będą one zamieszczane w Twoim komputerze. W każdym momencie możesz dokonać zmiany ustawień dotyczących cookies

Informacja

Precision of silicon oxynitride refractive-index profile retrieval using optical characterization