Drogi użytkowniku, aplikacja do prawidłowego działania wymaga obsługi JavaScript. Proszę włącz obsługę JavaScript w Twojej przeglądarce.

Tytuł pozycji:

Dwuwymiarowy obraz zjawisk w tranzystorze MOS - badania numeryczne

Szczegóły
Opis

Tytuł:: Dwuwymiarowy obraz zjawisk w tranzystorze MOS - badania numeryczne
Autorzy:: Panek, Marek
Współwytwórcy:: Politechnika Gdańska. Wydział Elektroniki, Telekomunikacji i Informatyki. Katedra Systemów Mikroelektronicznych
Kordalski, Wiesław
Politechnika Wrocławska. Wydział Elektroniki
Sitek, Mariusz
Data publikacji:: 2007
Źródło:: Biblioteka Narodowa
Język:: polski
Prawa:: http://www.europeana.eu/rights/rr-r/
Publikacja chroniona prawem autorskim - reprodukcja cyfrowa dostępna w czytelniach BN i na terminalach Academiki
Dostawca treści:: Academica
: Artykuł

Przejdź do źródła

Bibliogr.

Streszcz. ang.

Materiały z konferencji: V Krajowa konferencja naukowo-techniczna Technologie Informacyjne (TI); Gdańsk, 2007.

Ta witryna wykorzystuje pliki cookies do przechowywania informacji na Twoim komputerze. Pliki cookies stosujemy w celu świadczenia usług na najwyższym poziomie, w tym w sposób dostosowany do indywidualnych potrzeb. Korzystanie z witryny bez zmiany ustawień dotyczących cookies oznacza, że będą one zamieszczane w Twoim komputerze. W każdym momencie możesz dokonać zmiany ustawień dotyczących cookies

Informacja

Dwuwymiarowy obraz zjawisk w tranzystorze MOS - badania numeryczne