Influence of selected constructional and technological factors on tolerance and stability of thin-film resistors embedded in PCBs

Szczegóły
Opis

Tytuł:: Influence of selected constructional and technological factors on tolerance and stability of thin-film resistors embedded in PCBs
Współwytwórcy:: Markowski, Piotr
Instytut Tele- i Radiotechniczny
Politechnika Wrocławska. Wydział Elektroniki Mikrosystemów i Fotoniki
Araźna, Aneta
Stęplewski, Wojciech
Kozioł, Grażyna
Borecki, Janusz
Dziedzic, Andrzej (1957- )
Data publikacji:: 2011
Źródło:: Biblioteka Narodowa
Język:: angielski
Prawa:: http://www.europeana.eu/rights/rr-r/
Publikacja chroniona prawem autorskim - reprodukcja cyfrowa dostępna w czytelniach BN i na terminalach Academiki
Dostawca treści:: Academica
: Artykuł

Przejdź do źródła

Bibliogr.

Streszcz. pol.

Materiały z konferencji: 10th Electron Technology Conference ELTE 2010 and 34th International Microelectronics and Packaging IMAPS-CPMT Poland Conference; Wrocław, 22-25 September 2010.

Informacja

Influence of selected constructional and technological factors on tolerance and stability of thin-film resistors embedded in PCBs