Drogi użytkowniku, aplikacja do prawidłowego działania wymaga obsługi JavaScript. Proszę włącz obsługę JavaScript w Twojej przeglądarce.

Tytuł pozycji:

System pomiarowy do badania charakterystyk cienkowarstwowych układów elektrochromowych

Szczegóły
Opis

Tytuł:: System pomiarowy do badania charakterystyk cienkowarstwowych układów elektrochromowych
Autorzy:: Marszałek, Konstanty
Współwytwórcy:: Sobków, Zbigniew
Stapiński, Tomasz Jan
Akademia Górniczo-Hutnicza im. Stanisława Staszica w Krakowie. Wydział Informatyki, Elektroniki i Telekomunikacji. Katedra Elektroniki
Data publikacji:: 2011
Źródło:: Biblioteka Narodowa
Język:: polski
Prawa:: http://www.europeana.eu/rights/rr-r/
Publikacja chroniona prawem autorskim - reprodukcja cyfrowa dostępna w czytelniach BN i na terminalach Academiki
Dostawca treści:: Academica
: Artykuł

Przejdź do źródła

Bibliogr.

Streszcz. ang.

Materiały z konferencji: IX Konferencja Techniki Próżni ; Workshop on Field Emission from Carbonaceous Materials; Cedzyna, 6-9 czerwca 2011.

Ta witryna wykorzystuje pliki cookies do przechowywania informacji na Twoim komputerze. Pliki cookies stosujemy w celu świadczenia usług na najwyższym poziomie, w tym w sposób dostosowany do indywidualnych potrzeb. Korzystanie z witryny bez zmiany ustawień dotyczących cookies oznacza, że będą one zamieszczane w Twoim komputerze. W każdym momencie możesz dokonać zmiany ustawień dotyczących cookies

Informacja

System pomiarowy do badania charakterystyk cienkowarstwowych układów elektrochromowych