Drogi użytkowniku, aplikacja do prawidłowego działania wymaga obsługi JavaScript. Proszę włącz obsługę JavaScript w Twojej przeglądarce.

Tytuł pozycji:

Investigation of multiple degradation and rejuvenation cycles of electroluminescent thick film structures

Szczegóły
Opis

Tytuł:: Investigation of multiple degradation and rejuvenation cycles of electroluminescent thick film structures
Autorzy:: Mroczkowski, Mateusz
Współwytwórcy:: Cież, Michał
Instytut Technologii Elektronowej
Politechnika Warszawska. Wydział Elektroniki i Technik Informacyjnych
Kalenik, Jerzy
Data publikacji:: 2012
Źródło:: Biblioteka Narodowa
Język:: angielski
Prawa:: http://www.europeana.eu/rights/rr-r/
Publikacja chroniona prawem autorskim - reprodukcja cyfrowa dostępna w czytelniach BN i na terminalach Academiki
Dostawca treści:: Academica
: Artykuł

Przejdź do źródła

Materiały z konferencji: 35th International Microelectronics and Packaging IMAPS - IEEE CPMT Poland Conference; Gdańsk-Sobieszewo, 21-24 September 2011.

Bibliogr.

Streszcz. pol.

Ta witryna wykorzystuje pliki cookies do przechowywania informacji na Twoim komputerze. Pliki cookies stosujemy w celu świadczenia usług na najwyższym poziomie, w tym w sposób dostosowany do indywidualnych potrzeb. Korzystanie z witryny bez zmiany ustawień dotyczących cookies oznacza, że będą one zamieszczane w Twoim komputerze. W każdym momencie możesz dokonać zmiany ustawień dotyczących cookies

Informacja

Investigation of multiple degradation and rejuvenation cycles of electroluminescent thick film structures