Drogi użytkowniku, aplikacja do prawidłowego działania wymaga obsługi JavaScript. Proszę włącz obsługę JavaScript w Twojej przeglądarce.

Tytuł pozycji:

Basic electrical and optical properties of protective SiCx and SiNy layers

Szczegóły
Opis

Tytuł:: Basic electrical and optical properties of protective SiCx and SiNy layers
Współwytwórcy:: Wendler, Bogdan G.
Politechnika Łódzka
Kania, Sylwester
Zimnicki, Janusz
Jachowicz, Marcin
Data publikacji:: 2007
Źródło:: Biblioteka Narodowa
Język:: angielski
Prawa:: http://www.europeana.eu/rights/rr-r/
Publikacja chroniona prawem autorskim - reprodukcja cyfrowa dostępna w czytelniach BN i na terminalach Academiki
Dostawca treści:: Academica
: Artykuł

Przejdź do źródła

Materiały z konferencji: XVIII Physical Metallurgy and Materials Science Conference: Advanced Materials and Technologies AMT 2007; Warszawa-Jachranka, 18-21.06.2007.

Bibliogr.

Streszcz. pol.

Ta witryna wykorzystuje pliki cookies do przechowywania informacji na Twoim komputerze. Pliki cookies stosujemy w celu świadczenia usług na najwyższym poziomie, w tym w sposób dostosowany do indywidualnych potrzeb. Korzystanie z witryny bez zmiany ustawień dotyczących cookies oznacza, że będą one zamieszczane w Twoim komputerze. W każdym momencie możesz dokonać zmiany ustawień dotyczących cookies

Informacja

Basic electrical and optical properties of protective SiCx and SiNy layers