Drogi użytkowniku, aplikacja do prawidłowego działania wymaga obsługi JavaScript. Proszę włącz obsługę JavaScript w Twojej przeglądarce.

Tytuł pozycji:

Analysis of mounting induced strain in semiconductor structures by means of spatially resolved optical modulation techniques

Szczegóły
Opis

Tytuł:: Analysis of mounting induced strain in semiconductor structures by means of spatially resolved optical modulation techniques
Współwytwórcy:: Bugajski, Maciej
Pierściński, Kamil.
Ochalski, Tomasz J.
Wawer, Dorota
Kowalczyk, Emil.
Instytut Technologii Elektronowej
Piwoński, Tomasz
Data publikacji:: 2005
Źródło:: Biblioteka Narodowa
Język:: angielski
Prawa:: http://www.europeana.eu/rights/rr-r/
Publikacja chroniona prawem autorskim - reprodukcja cyfrowa dostępna w czytelniach BN i na terminalach Academiki
Dostawca treści:: Academica
: Artykuł

Przejdź do źródła

Bibliogr.

Materiały z konferencji: Surface Physics and Thin-Films Structure Seminar; Szklarska Poręba, 17-21 May 2005.

Ta witryna wykorzystuje pliki cookies do przechowywania informacji na Twoim komputerze. Pliki cookies stosujemy w celu świadczenia usług na najwyższym poziomie, w tym w sposób dostosowany do indywidualnych potrzeb. Korzystanie z witryny bez zmiany ustawień dotyczących cookies oznacza, że będą one zamieszczane w Twoim komputerze. W każdym momencie możesz dokonać zmiany ustawień dotyczących cookies

Informacja

Analysis of mounting induced strain in semiconductor structures by means of spatially resolved optical modulation techniques