Drogi użytkowniku, aplikacja do prawidłowego działania wymaga obsługi JavaScript. Proszę włącz obsługę JavaScript w Twojej przeglądarce.

Tytuł pozycji:

Optical and electrical characterization of defects in zinc oxide thin films grown by atomic layer deposition

Szczegóły
Opis

Tytuł:: Optical and electrical characterization of defects in zinc oxide thin films grown by atomic layer deposition
Współwytwórcy:: Uniwersytet Kardynała Stefana Wyszyńskiego w Warszawie. Wydział Matematyczno-Przyrodniczy. Szkoła Nauk Ścisłych
Witkowski, Bartłomiej
Jakieła, Rafał
Krajewski, Tomasz A.
Godlewski, Marek
Wachnicki, Łukasz
Guziewicz, Elżbieta
Łuka, Grzegorz
Instytut Fizyki PAN
Data publikacji:: 2009
Źródło:: Biblioteka Narodowa
Język:: angielski
Prawa:: http://www.europeana.eu/rights/rr-r/
Publikacja chroniona prawem autorskim - reprodukcja cyfrowa dostępna w czytelniach BN i na terminalach Academiki
Dostawca treści:: Academica
: Artykuł

Przejdź do źródła

Bibliogr.

Ta witryna wykorzystuje pliki cookies do przechowywania informacji na Twoim komputerze. Pliki cookies stosujemy w celu świadczenia usług na najwyższym poziomie, w tym w sposób dostosowany do indywidualnych potrzeb. Korzystanie z witryny bez zmiany ustawień dotyczących cookies oznacza, że będą one zamieszczane w Twoim komputerze. W każdym momencie możesz dokonać zmiany ustawień dotyczących cookies

Informacja

Optical and electrical characterization of defects in zinc oxide thin films grown by atomic layer deposition