Drogi użytkowniku, aplikacja do prawidłowego działania wymaga obsługi JavaScript. Proszę włącz obsługę JavaScript w Twojej przeglądarce.

Tytuł pozycji:

Od metrologii do systemów wizyjnych : środowisko NI LabVlEW w laboratoriach naukowych

Szczegóły
Opis

Tytuł:: Od metrologii do systemów wizyjnych : środowisko NI LabVlEW w laboratoriach naukowych
Współwytwórcy:: Namerła, Andrzej
Chmielewska, Agata
Kardyś, Piotr
Weychan, Radosław
Pawłowski, Paweł
Dąbrowski, Adam (telekomunikacja)
Meyer, Andrzej
Data publikacji:: 2011
Źródło:: Biblioteka Główna Politechniki Warszawskiej
Język:: polski
Prawa:: http://www.europeana.eu/rights/rr-r/
Publikacja chroniona prawem autorskim - reprodukcja cyfrowa dostępna w czytelniach BN i na terminalach Academiki
Dostawca treści:: Academica
: Artykuł

Przejdź do źródła

Bibliogr.

Streszcz. ang.

Ta witryna wykorzystuje pliki cookies do przechowywania informacji na Twoim komputerze. Pliki cookies stosujemy w celu świadczenia usług na najwyższym poziomie, w tym w sposób dostosowany do indywidualnych potrzeb. Korzystanie z witryny bez zmiany ustawień dotyczących cookies oznacza, że będą one zamieszczane w Twoim komputerze. W każdym momencie możesz dokonać zmiany ustawień dotyczących cookies

Informacja

Od metrologii do systemów wizyjnych : środowisko NI LabVlEW w laboratoriach naukowych