Drogi użytkowniku, aplikacja do prawidłowego działania wymaga obsługi JavaScript. Proszę włącz obsługę JavaScript w Twojej przeglądarce.

Tytuł pozycji:

STEM – program do obliczania punktów pomiarowych skorygowanych w pomiarach skaningowych na WMP

Szczegóły
Opis

Tytuł:: STEM – program do obliczania punktów pomiarowych skorygowanych w pomiarach skaningowych na WMP
Autorzy:: Łoś, Anna
Współwytwórcy:: Woźniak, Adam (metrologia)
Data publikacji:: 2008
Źródło:: Biblioteka Narodowa
Język:: polski
Prawa:: http://www.europeana.eu/rights/rr-r/
Publikacja chroniona prawem autorskim - reprodukcja cyfrowa dostępna w czytelniach BN i na terminalach Academiki
Dostawca treści:: Academica
: Artykuł

Przejdź do źródła

Bibliogr.

Streszcz. ang.

Materiały z konferencji: VIII Szkoła - Konferencja "Metrologia Wspomagana Komputerowo", tradycyjna forma-nowatorska treść; Waplewo, 27-30 maj 2008.

Ta witryna wykorzystuje pliki cookies do przechowywania informacji na Twoim komputerze. Pliki cookies stosujemy w celu świadczenia usług na najwyższym poziomie, w tym w sposób dostosowany do indywidualnych potrzeb. Korzystanie z witryny bez zmiany ustawień dotyczących cookies oznacza, że będą one zamieszczane w Twoim komputerze. W każdym momencie możesz dokonać zmiany ustawień dotyczących cookies

Informacja

STEM – program do obliczania punktów pomiarowych skorygowanych w pomiarach skaningowych na WMP