Drogi użytkowniku, aplikacja do prawidłowego działania wymaga obsługi JavaScript. Proszę włącz obsługę JavaScript w Twojej przeglądarce.

Tytuł pozycji:

Charge pumping characterization of MISFETs with SiO2/BatiO3 as a gate stack

Szczegóły
Opis

Tytuł:: Charge pumping characterization of MISFETs with SiO2/BatiO3 as a gate stack
Współwytwórcy:: Sochacki, Mariusz
Głuszko, Grzegorz
Szmidt, Jan
Łukasiak, Lidia
Firek, Piotr
Jakubowski, Andrzej
Data publikacji:: 2014
Źródło:: Biblioteka Narodowa
Język:: angielski
Prawa:: http://www.europeana.eu/rights/rr-r/
Publikacja chroniona prawem autorskim - reprodukcja cyfrowa dostępna w czytelniach BN i na terminalach Academiki
Dostawca treści:: Academica
: Artykuł

Przejdź do źródła

Bibliogr.

Streszcz. pol.

Ta witryna wykorzystuje pliki cookies do przechowywania informacji na Twoim komputerze. Pliki cookies stosujemy w celu świadczenia usług na najwyższym poziomie, w tym w sposób dostosowany do indywidualnych potrzeb. Korzystanie z witryny bez zmiany ustawień dotyczących cookies oznacza, że będą one zamieszczane w Twoim komputerze. W każdym momencie możesz dokonać zmiany ustawień dotyczących cookies

Informacja

Charge pumping characterization of MISFETs with SiO2/BatiO3 as a gate stack