Drogi użytkowniku, aplikacja do prawidłowego działania wymaga obsługi JavaScript. Proszę włącz obsługę JavaScript w Twojej przeglądarce.

Tytuł pozycji:

Raman scattering characterization of MoxW1-xS2 layered mixed crystals

Szczegóły
Opis

Tytuł:: Raman scattering characterization of MoxW1-xS2 layered mixed crystals
Autorzy:: Sigiro, Mula. Autor
Data publikacji:: 2017
Tematy:: Półprzewodniki
Kryształy
Spektroskopia Ramana
Źródło:: Biblioteka Narodowa
Język:: angielski
Prawa:: http://www.europeana.eu/rights/rr-r/
Publikacja chroniona prawem autorskim - reprodukcja cyfrowa dostępna w czytelniach BN i na terminalach Academiki
Dostawca treści:: Academica
: Artykuł

Przejdź do źródła

artykuł z czasopisma naukowego

Bibliografia na stronie 262.

artykuł z czasopisma fizycznego

artykuł problemowy

Ta witryna wykorzystuje pliki cookies do przechowywania informacji na Twoim komputerze. Pliki cookies stosujemy w celu świadczenia usług na najwyższym poziomie, w tym w sposób dostosowany do indywidualnych potrzeb. Korzystanie z witryny bez zmiany ustawień dotyczących cookies oznacza, że będą one zamieszczane w Twoim komputerze. W każdym momencie możesz dokonać zmiany ustawień dotyczących cookies

Informacja

Raman scattering characterization of MoxW1-xS2 layered mixed crystals