Materiały Elektroniczne 1995 T.23 nr 1

Tytuł:: Materiały Elektroniczne 1995 T.23 nr 1
Wpływ zanieczyszczeń metalicznych na profil sygnału EBIC w krzemowych strukturach epitaksjalnych
Materiały Elektroniczne 1995T.23 nr 1
Wpływ zanieczyszczeń metalicznych na profil sygnału EBIC w krzemowych strukturach epitaksjalnych = Influence of metalic contaminations on EBIC signal profiles in silicon epilayers
Autorzy:: Pawłowska Marta
Data publikacji:: 1995
Wydawca:: ITME
Słowa kluczowe:: zanieczyszczenie metaliczne
Electronic - materials
Materiały elektroniczne
krzemowa warstwa epitaksjalna
EBIC
silicon epitaxial layer
metallic contamination
Elektronika - czasopismo - materiały
Electronic - journal - materials
Źródło:: http://katalog.pan.pl/webpac-bin/218bitmeEN/wgbroker.exe?new+-access+top+search+open+NR+kv_5803
http://katalog.pan.pl/webpac-bin/218bitmePL/wgbroker.exe?new+-access+top+search+open+NR+kv_5803
ITME, sygn. dostępny
Język:: polski
Prawa:: Prawa zastrzeżone - dostęp nieograniczony
Rights Reserved - Free Access
Linki:: https://rcin.org.pl/dlibra/publication/edition/14749/content Link otwiera się w nowym oknie
Dostawca treści:: RCIN - Repozytorium Cyfrowe Instytutów Naukowych
: Książka

Przejdź do źródła

19-33 s. : il. ; 24 cm.

19-33 s. : il.

Bibliogr. s. 32-33

Informacja