XV Krajowa Konferencja Automatyki : Warszawa, 27-30 czerwca 2005. t. 3 * Zastosowania techniczne - Część C Urządzenia, maszyny, środowisko * Stanowisko pomiarowe z manipulatorem portalowym do badań właściwości i parametrów skanerów laserowych

Szczegóły
Opis

Tytuł:: XV Krajowa Konferencja Automatyki : Warszawa, 27-30 czerwca 2005. t. 3 * Zastosowania techniczne - Część C Urządzenia, maszyny, środowisko * Stanowisko pomiarowe z manipulatorem portalowym do badań właściwości i parametrów skanerów laserowych
Książka = Book ; KS/3/2005/R17P03
Autorzy:: Słowikowski, Marcin. Autor
Ludwiński, Marek. Autor
Klimasara, Wojciech.J.. Autor
Piłat, Zbigniew. Autor
Pachuta, Marek. Autor
Data publikacji:: 2005
Wydawca:: Instytut Badań Systemowych. Polska Akademia Nauk
Systems Research Institute. Polish Academy of Sciences
Źródło:: KS-2005-03-R17P03
Język:: polski
Prawa:: Creative Commons Attribution BY 4.0 license
Licencja Creative Commons Uznanie autorstwa 4.0
Linki:: https://rcin.org.pl/dlibra/publication/edition/159102/content Link otwiera się w nowym oknie
Dostawca treści:: RCIN - Repozytorium Cyfrowe Instytutów Naukowych
: Książka

Przejdź do źródła

Bibliography p. 252

Bibliografia s. 252

W niniejszej pracy przedstawiono wyniki projektu zrealizowanego w PIAP, dotyczącego koncepcji, wykonania, oprogramowania oraz badań stanowiska pomiarowego z manipulatorem portalowym. Stanowisko umożliwia zautomatyzowane wykonywanie badań właściwości i parametrów skanerów laserowych i kurtyn świetlnych wg procedur opisanych w normie PN-EN 61496-1:2003(U). Manipulator oraz jego system sterowania i oprogramowanie tworzą system pomiarowy, który umożliwia wykonywanie badań skanerów laserowych oraz kurtyn świetlnych do celów certyfikacji zgodnie z obowiązującymi od 1 maja 2004r przepisami prawnymi.

[5], 249-252 stron ; 21 cm

[5], 249-252 pages ; 21 cm

Informacja

XV Krajowa Konferencja Automatyki : Warszawa, 27-30 czerwca 2005. t. 3 * Zastosowania techniczne - Część C Urządzenia, maszyny, środowisko * Stanowisko pomiarowe z manipulatorem portalowym do badań właściwości i parametrów skanerów laserowych