Materiały Elektroniczne 1979 nr 1(25)

Tytuł:: Materiały Elektroniczne 1979 nr 1(25)
Badanie powierzchniowej warstwy uszkodzonej na płytkach monokrystalicznych krzemu
Badanie powierzchniowej warstwy uszkodzonej na płytkach monokrystalicznych krzemu = Investigation of the damaged surface layer on monocrystalline silicon wafers
Autorzy:: Łazowy Barbara
Data publikacji:: 1980
Wydawca:: Wydaw. Przemysłu Maszynowego "WEMA"
Słowa kluczowe:: Elektronika - czasopismo - materiały
Electronic - journal - materials
dameged layer
warstwa uszkodzona
silicon wafer
płytka krzemowa
Materiały elektroniczne
Electronic - materials
Źródło:: ITME, sygn. dostępny
http://katalog.pan.pl/webpac-bin/218bitmePL/wgbroker.exe?new+-access+top+search+open+NR+kv_5515
http://katalog.pan.pl/webpac-bin/218bitmeEN/wgbroker.exe?new+-access+top+search+open+NR+kv_5515
Język:: polski
Prawa:: Prawa zastrzeżone - dostęp nieograniczony
Rights Reserved - Free Access
Linki:: https://rcin.org.pl/dlibra/publication/edition/18458/content Link otwiera się w nowym oknie
Dostawca treści:: RCIN - Repozytorium Cyfrowe Instytutów Naukowych
: Książka

Przejdź do źródła

Bibliogr. s. [47]

s. 44-[47] : il.

s. 44-[47] : il. ; 24 cm.

Informacja